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工(gōng)業(yè)CT技(jì)術起源及發展

目錄:常見問(wèn)題發布時(shí)間(jiān):2019-04-28 09:33:47點擊率:

  随着制造業(yè)的(de)迅速發展,對(duì)産品質量檢驗的(de)要求越來(lái)越高(gāo),需要對(duì)越來(lái)越多的(de)關鍵、複雜(zá)零部件(jiàn)甚至産品內(nèi)部缺陷進行嚴格探傷和(hé)內(nèi)部結構尺寸精确測量。傳統的(de)無損檢測方法如超聲波檢測、射線照(zhào)相(xiàng)檢測等測量方法已不能完全滿足要求。于是,催生(shēng)了更先進、更方便的(de)檢測技(jì)術誕生(shēng),ICT(Industrial Computed Tomography--簡稱工(gōng)業(yè)CT)

        工(gōng)業(yè)CT(ICT)就是計(jì)算(suàn)機(jī)層析照(zhào)相(xiàng)或稱工(gōng)業(yè)計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描成像。雖然層析成像有(yǒu)關理(lǐ)論的(de)有(yǒu)關數學理(lǐ)論早在1917 年(nián)由J.Radon 提出,但(dàn)隻是在計(jì)算(suàn)機(jī)出現(xiàn)後并與放(fàng)射學科(kē)結合後才成為(wèi)一門新的(de)成像技(jì)術。在工(gōng)業(yè)方面特别是在無損檢測(NDT)與無損評價(NDE)領域更加顯示出其獨特之處。因此,國(guó)際無損檢測界把工(gōng)業(yè)CT 稱為(wèi)的(de)無損檢測手段。進入80 年(nián)代以來(lái),國(guó)際上(shàng)主要的(de)工(gōng)業(yè)化(huà)國(guó)家(jiā)已把X 射線或γ射線的(de)ICT 用于航天、航空、軍事(shì)、冶金(jīn)、機(jī)械、石油、電(diàn)力、地(dì)質、考古等部門的(de)NDT 和(hé)NDE,我國(guó)90 年(nián)代也已逐步把ICT 技(jì)術用于工(gōng)業(yè)無損檢測領域。

        按掃描獲取數據方式的(de)不同,CT技(jì)術已發展經曆了五個(gè)階段(即五代CT掃描方式)

        代CT,使用單源(一條射線)單探測器(qì)系統,系統相(xiàng)對(duì)于被檢物(wù)作(zuò)平行步進式移動掃描以獲得N個(gè)投影值,被檢物(wù)則按M個(gè)分度作(zuò)旋轉運動。這(zhè)種掃描方式被檢物(wù)僅需轉動180°即可。代CT機(jī)結構簡單、成本低(dī)、圖像清晰,但(dàn)檢測效率低(dī),在工(gōng)業(yè)CT中則很(hěn)少采用。

        第二代CT,是在代CT基礎上(shàng)發展起來(lái)的(de)。使用單源小(xiǎo)角度扇形射線束多探頭。射線扇形束角小(xiǎo)、探測器(qì)數目少,因此扇束不能全包容被檢物(wù)斷層,其掃描運動除被檢物(wù)需作(zuò)M個(gè)分度旋轉外(wài),射線扇束與探測器(qì)陣列架一道(dào)相(xiàng)對(duì)于被檢物(wù)還(hái)需作(zuò)平移運動,直至全部覆蓋被檢物(wù),求得所需的(de)成像數據為(wèi)止。

        第三代CT,它是單射線源,具有(yǒu)大扇角、寬扇束、全包容被檢斷面的(de)掃描方式。對(duì)應寬扇束有(yǒu)N個(gè)探測器(qì),保證一次分度取得N個(gè)投影計(jì)數,被檢物(wù)僅作(zuò)M個(gè)分度旋轉運動。因此,第三代CT運動單一、好(hǎo)控制、效率高(gāo),理(lǐ)論上(shàng)被檢物(wù)隻需旋轉一周即可檢測一個(gè)斷面。

        第四代CT,也是一種大扇角全包容,隻有(yǒu)旋轉運動的(de)掃描方式,但(dàn)它有(yǒu)相(xiàng)當多的(de)探測器(qì)形成固定圓環,僅由輻射源轉動實現(xiàn)掃描。其特點是掃描速度快、成本高(gāo)。

        第五代CT,是一種多源多探測器(qì),用于實時(shí)檢測與生(shēng)産控制系統。源與探測器(qì)按120°分布,工(gōng)件(jiàn)與源到探測器(qì)間(jiān)不作(zuò)相(xiàng)對(duì)轉動,這(zhè)種CT技(jì)術難度大,成本高(gāo)但(dàn)較其他(tā)幾種CT效率有(yǒu)顯著提高(gāo)。

        上(shàng)述五種CT掃描方式,在ICT機(jī)中用得普遍的(de)是第二代與第三代掃描,其中尤以第三代掃描方式用得多。這(zhè)是因為(wèi)它運動單一,易于控制,适合于被檢物(wù)回轉直徑不太大的(de)中小(xiǎo)型産品的(de)檢測,且具有(yǒu)成本低(dī),檢測效率高(gāo)等優點。

即采用第三代掃描方式,大扇角、寬扇束、全包容的(de)檢測方式提高(gāo)了檢測效率同時(shí)兼顧成本。強大的(de)圖像處理(lǐ)功能能準确的(de)識别被檢工(gōng)件(jiàn)的(de)多種缺陷,對(duì)各種缺陷進行分類标記和(hé)統計(jì),防止操作(zuò)人(rén)員(yuán)因操作(zuò)失誤而引起的(de)漏叛和(hé)誤判。



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